写真をクリックすると拡大します
膜厚計
膜厚測定機 VM-2210
SCREEN 管理番号 AX-001426
お問い合わせください
価格はお問い合わせ後、状態確認のうえご案内します。
この商品について問い合わせる ›在庫・状態・送料の確認とお見積りをメールで回答します。お電話でのご案内は行っておりません。
- 商品は掲載会社から直接ご購入いただきます。当サイトへのお支払いはありません
- 掲載価格は税別。梱包・送料は別途お見積り(全国発送、大型品は混載便)
- お引渡し条件・保証・支払方法は掲載会社と機械により異なります(多くは現状有姿・前金)。動作確認の結果や既知の不具合はお問い合わせ時にご案内します
仕様・詳細
| 機器名 | 膜厚測定機 |
|---|---|
| メーカー | SCREEN |
| 型式 | VM-2210 |
| 仕様 | カテゴリー:検査・分析装置, 膜厚計（膜厚測定装置） / 仕様（日本語）:膜厚のみ 測定方式： 光干渉式 用途： 半導体ウェーハ等の薄膜膜厚測定 対応ウェーハ： 4インチ対応 測定対象： フォトレジスト、酸化膜等の薄膜 測定： 非接触・非破壊による膜厚測定 |
| 年式 | 2015 |
| 製造番号 | 110L08655A |
| 数量 | 1 |
| カテゴリー | 計測、計量機 |
| 管理番号 | AX-001426 |
| 掲載日 | 2026-08-27 |
| 最終取得日 | 2026-10-06 |
ご購入の流れ
- お問い合わせフォームからご希望(数量・納期・動作確認の要否など)をお知らせください
- 掲載会社から回答通常数日以内に、在庫・状態(動作確認の結果)・送料込みのお見積りをメールでご案内します
- ご注文条件にご納得いただけたら掲載会社へご注文。取り置きのご相談も可能です
- お支払い・出荷多くは前金(出荷前振込)。大学・公的機関は掛け売りに対応できる場合があります
詳しくは ご利用ガイド をご覧ください。
関連する商品
膜厚計をすべて見る
反射分光膜厚測定装置
大塚電子 FE-3000
型式：FE-3000
お問い合わせください
蛍光X線膜厚計
Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ
カテゴリー:検査・分析装置, 膜厚計…
お問い合わせください
段差式膜厚測定器
アルバック Ulvac Dektak8
カテゴリー:検査・分析装置, 膜厚計…
お問い合わせください
膜厚測定機
SCREEN VM-2210
カテゴリー:検査・分析装置, 膜厚計…
お問い合わせください
薄膜測定装置
Filmetrics F50
カテゴリー:理化学機器, 測定装置 /…
お問い合わせください
商談中触針式プロファイリングシステム 膜厚段差・粗さ計測
Bruker Dektak XTL
寸法：約 W97.8 D95.4 H171.4 cm ※…
¥3,500,000
商品ID: 9725
お問い合わせください
問い合わせる