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膜厚計
触針式プロファイリングシステム
Bruker 型式 Dektak XTL 管理番号 RL-556
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仕様・詳細
| 機器名 | 触針式プロファイリングシステム |
|---|---|
| メーカー | Bruker |
| 型式 | Dektak XTL |
| 仕様 | 測定方法触針式プロファイル測定 測定能力2次元表面プロファイル測定 3次元測定 サンプル観察サイドビューカメラ：2.5mm x 4.25mm トップダウンカメラ：11.5mm x 15.5mm スタイラスセンサー 低慣性センサー（LIS3）＋N-Lite 低触圧センサー 触圧0.03 15mg スタイラスオプション 先端曲率の選択 （50nm ～ 25μm） その他ご希望に応じて対応可能 サンプルX/Yステージ 高精度エンコーダ自動300mmX/Y サンプルR-θステージ 自動、360°連続駆動 |
| 数量 | 1 |
| カテゴリー | 計測、計量機 |
| 管理番号 | RL-556 |
| 商品NO | 19142（旧サイトの番号） |
| 掲載日 | 2026-05-01 |
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商品ID: 2105
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