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走査電子顕微鏡（SEM） S-3500N
日立 Hitachi 管理番号 Z23022103
¥1,300,000 (税別・送料別)
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仕様・詳細
| 機器名 | 走査電子顕微鏡（SEM） |
|---|---|
| メーカー | 日立 Hitachi |
| 型式 | S-3500N |
| 仕様 | EMAX故障 |
| 年式 | 2002年2月 |
| 数量 | 1 |
| カテゴリー | 分析機器 |
| 管理番号 | Z23022103 |
| 商品NO | 15889（旧サイトの番号） |
| 掲載日 | 2023-04-18 |
| 最終取得日 | 2026-10-12 |
参考仕様（型式一般）
メーカーの公開資料などをもとにAIが調べた、この型式の一般的な仕様です。現品の状態・付属品・改造の有無は上の仕様欄と写真でご確認ください。誤りにお気づきの際はお問い合わせよりお知らせください。
| 分解能 | 3.0(高真空)/5.0(低真空) nm |
|---|---|
| 倍率 | 15〜300,000 倍 |
| 最大試料寸法 | 150(オプションで200) mm径 |
| 試料ステージ | 5軸(5軸/2軸モータードライブ搭載可) |
| 加速電圧 | 0.3〜30 kV |
| 低真空の圧力設定範囲 | 1〜270 Pa |
| 電子銃 | 熱電子放出型タングステンヘアピンフィラメント |
| 検出器 | 二次電子検出器(高真空)、反射電子検出器(低真空) |
出典: メーカー資料、nanonet.go.jp
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商品ID: 696
¥1,300,000
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