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走査電子顕微鏡（SEM） S-3000N
日立 Hitachi 管理番号 Z26012901
¥1,200,000 (税別・送料別)
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仕様・詳細
| 機器名 | 走査電子顕微鏡（SEM） |
|---|---|
| メーカー | 日立 Hitachi |
| 型式 | S-3000N |
| 年式 | 2002年 |
| 数量 | 1 |
| カテゴリー | 分析機器 |
| 管理番号 | Z26012901 |
| 商品NO | 18944（旧サイトの番号） |
| 掲載日 | 2026-02-01 |
| 最終取得日 | 2026-10-10 |
参考仕様（型式一般）
メーカーの公開資料などをもとにAIが調べた、この型式の一般的な仕様です。現品の状態・付属品・改造の有無は上の仕様欄と写真でご確認ください。誤りにお気づきの際はお問い合わせよりお知らせください。
| 二次電子像分解能 | 3.5(25kV、高真空モード) nm |
|---|---|
| 反射電子像分解能 | 5.0(25kV、可変圧力モード) nm |
| 加速電圧 | 0.3〜30 kV |
| 倍率 | 15〜300,000 倍 |
| 可変圧力範囲 | 1〜270 Pa |
| 電子源 | タングステンフィラメント |
| 最大試料寸法 | 直径150×高さ20 mm |
| ステージ移動範囲 | X=100、Y=50、Z=5〜40 mm |
| 試料傾斜/回転 | 傾斜0〜60度、回転360度 |
| 検出器 | 二次電子(高真空のみ)、反射電子、吸収電子 |
| EDX取付条件 | ワーキングディスタンス15mm、取出角35度 |
出典: rrc.uic.edu
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商品ID: 1192
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