簡単全文検索

ｷｰﾜｰﾄﾞが入っている全商品を検索
　 ｷｰﾜｰﾄﾞ　

絞込詳細検索

複数項目にｷｰﾜｰﾄﾞを入れれば、商品の絞込検索が可能
　 機器名　
　 ﾒｰｶｰ名　
　 機器仕様
　 ﾓﾃﾞﾙNO 

インフォメーション

    Page：　　 1
中古機器登録データベース - 検索結果
back
検索結果
40 件の商品がみつかりました。 [1-40] を表示
写真 (クリックで拡大) 商品カテゴリ
商品NO		 機器名称
年代		 仕様
モデルNO		 メーカー名
価格 (円)
7:分析機器 X線透視装置 1130：その他
11471  MX-60BASIC
7:分析機器 走査電子顕微鏡（SEM） EMAX付き 585：日立ハイテク
11670  S-2600H 1,200,000
7:分析機器 分注機 1130：その他
12680  2011年 00-MT-Ⅰ 200,000
7:分析機器 分注機 1130：その他
13331  Pro・madia　DT cube 150,000
7:分析機器 2軸表面検査機 ガラス等基板表面の欠陥検出・解析、2軸仕様、XYストローク：500×450mm 1130：その他
14242  GX-80LT
7:分析機器 原子吸光分析装置用水素化物発生装置 272：島津製作所　Shimadzu
14270  HVG-1 60,000
7:分析機器 ELECTRON MICROSCOPE 517：日本電子　Jeol
14344  2010年 JSW-2000
7:分析機器 X線検査装置 1315：ポニー工業
14655  1998年 ME4080-V 4,000,000
7:分析機器 X線検査装置 1315：ポニー工業
14656  1997年 ME4070-Ⅲ 4,000,000
7:分析機器 ヘリウムリークディテクター 25：アネルバ　ANELVA
15167  A-230M-LD 1,200,000
7:分析機器 ガスクロマトグラフ 14：アジレントテクノロジー　Agile
15307  2014年 7820A
7:分析機器 走査電子顕微鏡（SEM） 583：日立　Hitachi
15317  S-2600H 1,200,000
7:分析機器 X線回折装置（XRD） 管球：Cu、Ｃｒ、Co用付属 ひずみ測定アタッチメントRINT 2631 796：リガク　Rigaku
15465  2002年 RINT2200ULTIMA 1,200,000
7:分析機器 走査電子顕微鏡（SEM） emax故障 585：日立ハイテク
15889  2002年 S-3500N 1,300,000
7:分析機器 走査電子顕微鏡（SEM） 585：日立ハイテク
16271  S-3700N
7:分析機器 レーザーラマン分光光度計 521：日本分光　Jasco
17202  2002年 NRS-1000 500,000
7:分析機器 マイクロ波試料前処理装置 1130：その他
17294  START D 400,000
7:分析機器 ヘリウムリークディテクター 34：アルバック　Ulvac
17420  2009年 Heliot 701 800,000
7:分析機器 ヘリウムリークディテクター 34：アルバック　Ulvac
17421  2008年 Heliot 701 800,000
7:分析機器 ヘリウムリークディテクター 34：アルバック　Ulvac
17422  2008年 Heliot 701 800,000
7:分析機器 近赤外多成分分析装置 615：フォスジャパン　Foss
17476  InfraXact 500,000
7:分析機器 X線検査装置（工業用X線CT装置） 1337：アールエフ
17656  2013年 NAOMI-CT 800,000
7:分析機器 テクスチャーアナライザー 1351：Stable Micro Systems
17665  2015年 TA.XT Express 300,000
7:分析機器 非分散型赤外線ガス分析計 631：富士電機
17776  2011年 ZKJFBY14-DJGLY 100,000
7:分析機器 ガスアナライザー 1212：ジーエルサイエンス
17787  DX6210 80,000
7:分析機器 ヘリウムリークディテクター スニファー式 65：インフィコン　Inficon
17844  2012年 P3000XL 800,000
7:分析機器 ヘリウムリークディテクター スニファー式 65：インフィコン　Inficon
17845  P3000XL 800,000
7:分析機器 X線回折装置（XRD） 796：リガク　Rigaku
18153  UltimaⅣ 1500000
7:分析機器 走査電子顕微鏡（SEM） 585：日立ハイテク
18164  2014年 SU1510 3,500,000
7:分析機器 微量全窒素分析装置 718：三菱ケミカルアナリテック
18354  2012年 TN-2100H 242000
7:分析機器 高温型示唆熱重量同時測定装置 321：セイコーインスツル　SII
18468  2004年 TG/DTA6300 600,000
7:分析機器 電気化学検出器 コロナ検出器 75：＊＊
18572  COULOCHEMⅢ 66000
7:分析機器 カラムオーブン 以下は新品時の仕様となります。出品商品は中古品の為、性能を保証するものではございませんので予めご承知おきください。

方式：強制空気循環方式
温度制御範囲：室温マイナス10～80 ℃
設定温度：4～80 ℃　1 ℃ステップ
オーブン容量：220(W) x 363(H) x 95(D) mm
安全対策：過熱防止対策、可燃性溶媒リークセンサ
 272：島津製作所　Shimadzu
18573  CTO-10ACVP 30000
7:分析機器 Qマス 34：アルバック　Ulvac
18574  CGM-052 600,000
7:分析機器 画像式粒度分布測定装置 https://www.malvernpanalytical.com/jp/support/product-support/morphologi-range/morphologi-g3 1003：＊＊
18640  2014 Morphologi G3SE 600000
7:分析機器 蛍光検出器 寸法：260 (W) x 520 (D) x 205 (H) mm
重量：約17 kg
光源：150W Xeランプ
波長範囲：200~650 nm（Ex、Em共)
電源：AC 100V (50/60 Hz) 350VA		 272：島津製作所　Shimadzu
18656  RF-10AXL 80000
7:分析機器 HPLC UV-VIS検出器 272：島津製作所　Shimadzu
18657  SPD-10AV 35000
7:分析機器 HPLC UV-VIS検出器 本体寸法：260(W) x 420(L) x 140(H) mm
重量：13kg
波長範囲：190~600 nm
光源：D2ランプを使用
電源：AC 100V, 130VA, 50/60Hz		 272：島津製作所　Shimadzu
18658  SPD-10A 30000
7:分析機器 大気中光電子収量分光装置 801：理研計器　RIKEN KEIKI
18674  AC-2 1,200,000
7:分析機器 光電気化学アナライザー 1056：Solartron
18678  MODULAB-PEC-8 1,000,000

このページの先頭へ


スマートフォン版