2026年08月29日に登録された商品21件
CNコーダー
ヤナコ機器開発研究所 MT-700
型式：MT-700
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四重極質量分析計
Pfeiffer Vacuum（ファイファー） QME200
質量範囲：1-100 amu 残留ガス分析 …
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エネルギー分散型X線分析装置
島津製作所 Shimadzu EDX-720
XRFシステム・元素分析装置・X線検…
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X線回析装置
Bruker D2 PHASER
XRDシステム・X線発生装置・ゴニオ…
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イオンクロマトグラフ
Toa IA-100 (Ion Analyzer) オートサンプラー ICA-5450
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エアーサンプラー
メルク MS-100
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カーボンコーター
日本電子 Jeol JEC-530
型式：JEC-530
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ガスクロマトグラフ
日立サイエンス G-6000
型式：G-6000
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ヘリウムリークディテクター
アルバック Ulvac DLMS-TP3E
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ヘリウムリークディテクター
島津製作所 Shimadzu MSE-3200R
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ヘリウムリークディテクター
ANELVAアネルバ（ALCATELアルカテル） ASM110 TURBO CL
検出感度：2×10-11～1×10-5atm・cm3…
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蛍光分光光度計
日立 Hitachi F-4500
型式：F-4500
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原子間力顕微鏡
セイコーインスツル SII SPA-550Le-Type2
SPM ナノインデンター カンチレバー
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粒子径分布測定装置-粒度分布計
堀場製作所 LA-300
型式：LA-300
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試料コーター
日本電子 Jeol MP-19010NCTR
型式：MP-19010NCTR
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走査型電子顕微鏡
島津（SHIMADZU） SS-550 （SUPERSCAN）
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SEM
キーエンス Keyence VE-9800
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走査電子顕微鏡
日立 Hitachi Miniscope TM3000
倍率：×15～×30,000（デジタルズー…
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電子線マイクロアナライザー
島津製作所 Shimadzu EPMA-1600
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EPMA
島津製作所 Shimadzu EPMA-1610
測定可能元素：B（ホウ素）～U（ウ…
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FE-SEM
JEOL 日本電子 JSM-6700F
分解能：1.0nm（加速電圧15kV時）2.…
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