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反射分光膜厚計

大塚電子 型式 FE-3000 管理番号 SX-M001-0009
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仕様・詳細

機器名反射分光膜厚計
メーカー大塚電子
型式FE-3000
仕様カテゴリー:検査・分析装置, 膜厚計(膜厚測定装置) / 仕様(日本語):サンプルサイズ:3インチ 4インチ 6インチ 測定波長範囲:230nm~800nm 測定膜厚範囲:10nm~20μm 膜厚精度:±0.2㎚ 測定スポット径:φ200μm/レンズ倍率 自動XYZステージ 本体サイズ:1000×940×1636mm 本体重量:約300kg 仕様書、取説書有り
製造番号AV42-1116
数量1
管理番号SX-M001-0009
掲載日2026-08-27
在庫情報の最終確認2026-08-28

ご購入の流れ

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